扫描电镜图像为何可能会出现条纹或拖影？

扫描电镜（SEM）图像中出现条纹或拖影（smearing、streaks、drag）现象，通常反映了电子束扫描、样品状态或系统稳定性的问题。

如何进行 SEM 图像的定量测量？

在扫描电子显微镜（SEM）中进行图像的定量测量，关键在于图像已正确标定、设备设置精确，以及测量方法规范。

在扫描电镜（SEM）成像中，加速电压的选择会直接影响图像的分辨率、对比度、表面灵敏度和样品损伤程度。

扫描电镜（SEM）的电子束聚焦与扫描是成像的核心机制，整个过程涉及电子枪、电磁透镜系统和扫描线圈等部件，目的是将电子束精准地聚焦成细小的束斑，并以系统控制的方式逐点扫描样品表面。

在扫描电镜（SEM）成像过程中，调整焦距（Focus）是获得清晰图像的关键步骤。

判断扫描电镜（SEM）图像是否失真，可以从以下几个关键方面入手进行识别和判断：

扫描电镜（SEM）图像中出现条纹（stripes, banding）或颗粒感（grainy texture, noise），可能源于以下几类问题，分别涉及设备、样品、成像参数和环境因素。

扫描电子显微镜（SEM）的成像质量对使用环境高度敏感。