如何在扫描电镜中减少样品表面充电效应

在扫描电子显微镜（SEM）中，样品表面充电效应是一个常见问题，特别是在成像非导电样品时。

如何在扫描电镜中校准并优化探针的灵敏度

在扫描电子显微镜（SEM）中，探针的灵敏度校准和优化是确保高质量成像和准确分析的关键步骤。

在扫描电子显微镜（SEM）中，选择高真空或低真空成像模式取决于样品的特性、实验需求以及期望的成像效果。

扫描电子显微镜（SEM）的电荷补偿技术用于解决样品在电子束照射下可能产生的电荷积累问题，这种电荷积累会导致图像失真、对比度降低或图像模糊。

在扫描电子显微镜（SEM）中进行原位拉伸实验是一种用于观察材料在受力条件下的微观结构和行为技术。

在扫描电子显微镜（SEM）中，伪影（artifacts）是图像中由于非样品原因而出现的假象或失真，这些伪影可能干扰对样品的正确分析和解释。

在扫描电子显微镜（SEM）中，大面积成像通常需要将多个相邻的小区域图像拼接在一起，这样可以获得更大视野的高分辨率图像。

在扫描电镜（SEM）中，实现高对比度成像对于清晰地展示样品的结构和细节至关重要。