如何将样品杆插入透射电镜并正确对齐？

将样品杆插入透射电镜（Transmission Electron Microscope, TEM）并正确对齐是一个需要仔细操作和一定技术经验的过程。

样品杆在使用中出现松动，如何处理？

在使用过程中，如果样品杆出现松动，需要立即处理以防止样品损坏或数据不准确。

在样品杆上安装多种类型的样品时，需要考虑样品的形状、尺寸、材料及所使用的分析设备。

6月26日至28日，华南半导体领域具有影响力和代表性的行业盛会SEMI-e 2024第六届深圳半导体展将在深圳国际会展中心（宝安新馆）拉开序幕。

台扫电镜（SEM）对样品的颗粒大小并没有严格的要求，但颗粒大小会影响成像效果和分析结果。

在使用台扫电镜（SEM）分析样品时，工作距离（working distance, WD）对观察结果有显著影响。

扫描电子显微镜（SEM）在低真空和高真空模式下工作时存在一些显著的区别。

提高扫描电子显微镜（SEM）的放大倍数是为了观察样品的更细微的结构和细节。