能用扫描电镜看样品的厚度吗？

扫描电镜（SEM）通常不能直接测量样品的厚度，因为它主要是观察样品表面的形貌和结构。

如何判断扫描电镜成像出现了伪影？

在扫描电镜（SEM）成像中，伪影是指非真实反映样品结构的图像特征，常由设备、样品或操作问题引起。

扫描电镜（SEM）完全支持对同一位置进行多种模式的扫描成像。这是它的一大优势，尤其适合材料、电子、地质、生物等领域的综合分析。

扫描电镜图像突然抖动是一个较常见的问题，通常说明系统出现了某种不稳定或干扰。

扫描电镜（SEM）图像边缘模糊的确可能与调焦不当有关，但这只是众多可能原因之一。

当扫描电镜（SEM）样品太大、无法放入样品舱时，可以通过以下几种方式解决或绕开限制：

扫描电镜（SEM）可以非常有效地检测金属表面的缺陷。它是材料表面分析中常用、可靠的工具之一，尤其适用于微米甚至纳米级别的缺陷观察。

扫描电镜（SEM）图像在放大后出现模糊，是较常见的问题，影响微纳米结构观察的清晰度与分辨率。