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在扫描电镜（SEM）成像时，如果图像对比度太低，可以通过以下方法调整改善：

1. 调整探测器设置

切换探测器类型：比如在二次电子（SE）和背散射电子（BSE）探测器之间切换，不同探测器成像特性不同，SE 图通常细节更清晰，BSE 图通常成分对比更明显。

优化探测器增益（Gain）：适当提高增益能增强信号，但过高容易引入噪声。

2. 优化束流参数

降低电子束电流（Beam Current）：太高的电流容易让图像发白、细节丢失，适当减小可提升对比度。

优化加速电压（Accelerating Voltage）：

低电压（1–5 kV）有助于表面细节成像，对比度好。

高电压（10–20 kV）穿透深，但可能降低表面细节对比。

3. 调整成像参数

动态范围调节（Brightness/Contrast）：

降低亮度，增加对比度，使灰阶分布拉开。

缩短扫描时间：

快速扫描减少充电效应，也能保持清晰度，避免过曝。

4. 样品处理

改善样品导电性：

如果样品带电，会导致成像发灰、对比度低。可以通过喷金、碳镀膜等方式提升表面导电性。

优化样品倾角：

适当倾斜样品可以增加表面结构的阴影效果，增强立体感和对比度。

5. 后期软件调整

成像后，可以使用电镜自带软件或者其他图像处理软件（如 ImageJ）适度调整亮度/对比度。

注意不要后期拉得过度，以免失真。