扫描电镜的虚拟对焦与焦深控制

扫描电镜（SEM）中的虚拟对焦和焦深控制是两项重要的图像处理技术，用于提高样品的成像质量和优化影像的清晰度。

扫描电镜中影像对比度与样品厚度的关系

在扫描电子显微镜（SEM）中，影像对比度与样品厚度之间有着密切的关系。

选择合适的扫描电镜（SEM）加速电压和束流强度是确保高质量图像的关键因素，特别是当需要进行不同类型的样品观察时。

在扫描电镜（SEM）中，振动和噪声会显著影响图像质量，尤其是在高分辨率成像时。

在扫描电子显微镜（SEM）中，噪声和干扰可能来自多个来源，影响成像质量和测量精度。常见的噪声与干扰包括：

提高扫描电镜（SEM）图像质量的方法通常涉及优化多个方面，包括样品准备、设备设置、成像参数调整以及后处理技术。

在扫描电镜（SEM）中，杂散电子干扰（secondary electrons散射、背散射电子、以及其他环境电子的噪声）通常会影响图像质量和准确度。

扫描电镜（SEM）图像过暗或过亮通常与图像的曝光、增益设置、探测器选择以及样品表面特性有关。