如何避免或减轻扫描电镜样品制备过程中的伪迹和伪影？

避免或减轻扫描电镜样品制备过程中的伪迹和伪影是确保获得高质量显微图像的关键步骤。

扫描电镜与传统光学显微镜有何不同

扫描电镜（SEM）与传统光学显微镜有一些显著的不同之处，包括以下几点：

透过扫描电镜（SEM）可以观察各种样品，包括但不限于以下内容：

扫描电镜需要处于真空环境的原因有以下几点：

扫描电子显微镜通常用于金属和合金分析的原因如下：

扫描电镜样品表面的 "热伪影" 现象通常是由于电子束的高能量导致的。这种现象可能会导致样品局部升温，影响成像和分析结果。

扫描电镜的电子束束缚模式，通常称为束缚模式（或束缚控制模式），是一种操作模式，用于控制电子束的运动以实现不同的成像和分析需求。

在扫描电镜（SEM）中，信号-噪声比（SNR）的优化对于获得高质量的图像和可靠的数据分析至关重要。