扫描电镜和透射电镜有何不同？

扫描电镜和透射电镜是两种不同类型的显微镜，都用于观察微观结构，但它们的工作原理、成像方式以及适用范围有很大的不同。

如何避免扫描电镜成像中的充电效应？

扫描电镜成像中的充电效应是指由于电子束与样品相互作用产生的表面电荷积累，从而导致成像问题，如图像失真、形变、模糊等。

在扫描电镜中，样品表面电荷的积累可能会导致图像的产生模糊、形变或噪声等问题。

传统的扫描电镜是一种使用电子束而不是光束的显微镜，因此无法直接获取样品的真实深度信息。

扫描电镜图像的空间分辨率校准是确保您能够准确测量图像中各种特征的大小的关键步骤之一。

在扫描电镜（SEM）中实现横截面观察通常需要使用样品制备和仪器操作的特定技术。

扫描电镜（SEM）的加速电压是指加速电子束的能量。加速电压的选择会直接影响SEM图像的质量和特性。

定量分析扫描电镜图像可以提供关于样品表面特征的定量信息，如颗粒大小、纹理分布、孔隙度等。