扫描电镜的高真空和低真空模式有什么不同？

扫描电子显微镜（SEM）通常提供两种操作模式：高真空模式和低真空模式。

扫描电镜中的电子束对样品会造成什么影响？

扫描电子显微镜（SEM）中的电子束对样品会产生多种影响，包括以下几个方面：

扫描电镜（SEM）的成像原理是通过对样品表面进行扫描和检测来获取图像。

扫描电镜（SEM）和传统光学显微镜在工作原理、分辨率、样品准备和观察方式等方面存在显著的区别。

在扫描电镜（SEM）中，探针和探头是两个不同的概念，它们用于描述电子束与样品之间的相互作用。

扫描电镜（SEM）是一种常用于观察材料表面形貌和进行元素组成分析的仪器。

扫描电镜（SEM）分析和传统显微镜观察在原理和观察能力上存在一些区别。以下是它们之间的主要区别：

准备样品进行扫描电镜（Scanning Electron Microscope，SEM）分析需要经过一系列步骤。