在扫描电镜中如何设定扫描速度？对图像有何影响？

在扫描电子显微镜（SEM）中，扫描速度指的是电子束在样品表面每个像素上停留的时间，通常通过设置“帧时间”或“像素驻留时间”来调节。

扫描电镜中的“电荷积聚”现象怎么解决？

扫描电镜（SEM）中的“电荷积聚”（Charging）现象是指非导电样品在电子束照射下无法及时释放电荷，导致电子在样品表面积累。

要保存高质量的扫描电镜（SEM）图片，需要从拍摄参数、文件格式、后期处理和存储管理等方面进行系统优化。

扫描电镜（SEM）中样品表面放电（充电效应）会严重干扰成像，表现为亮斑、图像扭曲或闪烁。

在扫描电镜（SEM）中获取样品成分信息，主要通过能谱仪（EDS）和背散射电子（BSE）成像实现。

扫描电镜（SEM）能够观察多种类型的样品，但其制备要求和成像效果因样品性质（导电性、耐电子束能力、含水量等）而异。

当扫描电镜（SEM）开机后电子束无法对中时，可按以下步骤系统排查和调整：

扫描电镜（SEM）对样品尺寸和厚度的限制主要取决于其腔室设计、样品台承载能力、探测器类型以及电子束穿透深度等因素。