扫描电镜拍摄图像时出现拖影怎么办？

扫描电镜（SEM）拍摄图像出现拖影（smearing、streaking 或 shadowing），通常表现为图像边缘模糊、重复轮廓或拉长的影子。

如何判断扫描电镜下样品是否被污染？

判断扫描电镜（SEM）下样品是否被污染，通常可以通过以下几个方面进行观察和分析：

非导电样品在扫描电镜（SEM）中成像时会面临一个主要问题：电荷积累（charging）。因为电子束轰击非导体后，电子无法迅速导出，导致样品表面积累负电荷，从而产生图像漂移、亮度不均甚至成像失败。

扫描电镜（SEM）中，Z方向调节即样品台的上下移动，直接影响样品表面与电子枪之间的工作距离（WD, working distance），对焦的准确性和成像质量高度依赖这个参数。

扫描电镜（SEM）工作时对真空度要求较高，若真空度不够（即腔室压力偏高），会对成像质量和设备运行产生一系列不良影响。

样品表面污染会显著影响扫描电镜（SEM）成像质量，具体表现和影响如下：

使用扫描电镜（SEM）观察样品在某些情况下确实可能造成样品损伤。这种损伤取决于样品的材质、电导率、结构稳定性、电子束参数等。

扫描电镜（SEM）成像过程中出现的伪影（artifact）是影响图像质量和判读准确性的重要问题。